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             产品展示 > 详细介绍 >> Leeb451表面粗糙度仪 表面光洁度仪 粗糙度测试仪 测量仪
     
 
产品名称: Leeb451表面粗糙度仪 表面光洁度仪 粗糙度测试仪 测量仪
发布日期: 2014-5-19
查看数次: 699
   
 

Leeb451表面粗糙度仪 表面光洁度仪 将传感器放在工件被测表面上,由仪器内部的驱动机构带动传感器沿被测表面做等速滑行,传感器通过内置的锐利触针感受被测表面的粗糙度,此时工件被测表面的粗糙度引起触针产生位移,该位移使传感器电感线圈的电感量发生变化,从而在相敏整流器的输出端产生与被测表面粗糙度成比例的模拟信号,该信号经过放大及电平转换之后进入数据采集系统。

技术参数

leeb451

leeb452

测量参数

RaRzRqRt

RaRz

测量范围

Ra:0.05-10.0μmRz:0.1-50μm

取样长度

0.25mm0.8mm2.5mm

评定长度

1.25mm4mm5mm

扫描长度

6mm

示值误差

≤±15

示值变动性

12

传感器类型

压电晶体

电源

3.7V锂离子电池

工作温度

0ºC- 40ºC

重量

200g

外型尺寸

106×70×24mm

标准配置

主机、电源适配器、多刻线样板(粗糙度标准块)、说明书、合格证、保修卡、质量反馈书、手提箱等